綜合上述分析，可以認為：觸頭受表麵磨損、表麵氧化、電弧燒傷等表麵汙染的影響，觸頭表麵品質嚴重劣化，為測量數據誤差較大的原因之一；觸頭彈簧經久疲勞，超行程減少至觸頭壓力不穩，使表麵接觸麵積時大時小，因此數據誤差較大的原因有以下一點：

4.1超行程調整

合閘操作中，開關觸頭接觸後，動觸頭繼續運動的距離為超行程。超行程的作用是保證觸頭在一定程度的電磨損後仍能保持一定的接觸壓力和可靠地接觸麵積；在分閘時，使動觸頭獲得一定的初始衝擊動能，提高動觸頭的初始加速度和拉斷觸頭熔焊點；使真空斷路器在合閘時能夠借助於觸頭彈簧力得到平滑的緩衝，減輕衝擊力。

通常，真空斷路器的超行程隻取觸頭開距的15%-40%。各種真空斷路器的超行程各不相同，目前基本都用觸頭彈簧在分合閘時彈簧壓縮量來表示。對於12kV真空斷路器來說，一般為3-4mm。而對於運行中的斷路器，習慣上是用超行程的減少量來表示觸頭的磨損量，以此間接估算真空斷路器的電壽命，並依據超行程的減小值來確定觸頭接觸壓力是否在規定範圍內。

當回路電阻測量值與上次值比較，變化量在1.2倍以上時，可以通過調整觸頭彈簧的壓縮量，來適當調整超行程值。超行程不能過大，否則會增大操作機構的合閘功，使合閘不可靠，甚至導致真空泡漏氣；也不能太小，否則不能保證適當的合閘觸頭壓力，動熱穩定性下降甚至引起重合閘彈跳。調整好後，重新測量回路電阻值，如果阻值穩定在50μΩ以下，基本判斷斷路器可以繼續使用。



量真空斷路器每相導電回路電阻，實質上是檢驗動、靜觸頭之間接觸電阻的變化，進而判斷觸頭是否良好。斷路器導電回路直流電阻，實際上包括套管導電杆電阻、導電杆與觸頭連接處電阻和動、靜觸頭之間的接觸電阻。前兩者基本是固定值，而動、靜觸頭之間的接觸電阻，由於各種因素的影響(如觸頭表麵氧化、觸頭之間殘存有機械雜物或碳化物、接觸壓力下降，接觸麵積減小、短路電流燒傷等)，常常有所變化。

由於兩個導體接觸時，因其表麵非絕對的光滑、平坦，隻能在其表麵的一些點上接觸，使導體中的電流線在這些接觸處劇烈收縮，實際接觸麵積大大縮小，而使電阻增加，此原因引起的接觸電阻稱為收縮電阻。另由於各導體的接觸因氧化、硫化等各種原因會存在一層薄膜，該膜使接觸過渡區域的電阻增大，此原因引起的接觸電阻稱為表麵電阻（或膜電阻）。接觸電阻的存在，增加了導體在通電時的損耗，使接觸處的切斷能力，也是反映安裝檢修質量的重要數據。

由電流源經“I+、I-兩端口（也稱I型口），供給被測電阻Rx電流，電流的大小有電流表I讀出，Rx兩端的電壓降“V+、V-”兩端口(也稱V型口)取出，由電壓表V讀出。通過對I、V的測量，就可以算出被測電阻的阻值。

1.3 回路電阻相關規程的技術標準

《GB50150-2006電氣裝置安裝工程電氣設備交接試驗標準》要求，每相導電回路的電阻值測量，宜采用電流不小於100A的直流壓降法。測試結果應符合產品技術條件的規定。

《DL/T596-1996電力設備預防性試驗規程》要求運行中自行規定，建議不大於1.2倍出廠值。

2影響測量誤差的因素

測量誤差主要分為三大類：係統誤差、隨機誤差、粗大誤差。測量工作是在一定條件下進行的，外界環境、觀測者的技術水平和儀器本身的構造的不完善等原因，都可能導致測量誤差的產生，通常把測量儀器、觀測者的技術水平和外界環境三個方麵綜合起來，稱為觀測條件。觀測條件不理想和不斷變化，是產生測量誤差的根本原因。

2.1導電回路電阻測量誤差的分析

從斷路器內部結構上著相關部件的特性的分析。

2.1.1導流部分

導流部分是由動主觸頭、動弧觸頭、靜主觸頭、靜弧觸頭，上接線端、下接線端及過渡觸頭、壓氣缸及噴嘴、提升杆組成。

動、靜主觸頭是導流部分主要元件，它的工作麵均是銅銀複合材料精製而成，其電阻率小，導電性能強。在相對運動及接觸中，是靠材料彈性強度產生的圓周壓力（裝配公差）組成，它們之間在運動產生的磨損程度，彈性恢複及接觸靜態後的圓周壓強（壓力）是會夠成影響斷路器在快合後導流回路接觸電阻值由大變小的主要原因的。

動靜弧觸頭在導流部分中主要作用是在斷路器剛合、分點過程中吸收電弧及高溫熱量，對主靜觸頭起到保護。這是因為在開關合分過程中，弧觸頭比主觸頭先接觸後斷開其材料是用銅鎢複合而成；電阻率高於主觸頭的銅銀，導電性能也差於銅銀，通常回路接觸電阻值不反映它的情況。

2.2分析產生的誤差

以上分析討論得知：動靜觸頭接觸情況是夠成接觸電阻“異常”情況的主要原因。它取於： ⑴ 靜主觸頭材料抗衝擊疲勞恢複程度。體現在彈性強度上，即在動觸頭被快速合後，靜觸頭對動觸頭恢複彈性愈快。圓周壓力愈大，其二者接觸效果就愈好，反之則不理想。⑵動觸頭在原點的兩處，即靜觸頭與下端過渡觸頭的接觸工作麵磨損程度，體現在工作部位的表麵鍍銀磨損，劃痕磨損或少許氧化，電解損傷方麵上。在長期的工作原點上發生頻繁運動磨合及損傷是不可避免的。

若是第⑴種情況影響了接觸電阻，輕著可通過改變原點接觸，緩解材料疲勞原點的強度；重則要進行解體大修，更換元件徹底解決。

若是⑵種情況的發生影響著接觸電阻，則也可通過行程微調，改變原點接觸，改善工作麵，可以達到理想目的。

2.3提高測量精度的措施

以ABB 可抽出式VD4真空斷路器為例，由於高壓開關櫃母線側靜觸頭一般情況下帶電，所以進行回路電阻測量時需要將斷路器小車推出。而小車推出後斷路器動觸頭鬆動，影響回路電阻測量。所以需要使用製作專門的銅製棒料（以下簡稱銅棒）代替靜觸頭的作用，即按照靜觸頭的尺寸加工銅棒，使得動觸頭和銅棒之間的接觸情況與動靜觸頭接觸情況相近，來模擬斷路器實際工作狀態。

表2是未使用銅棒測得回路電阻和使用銅棒後測得回路電阻數據對比（同一台斷路器A相）。

序號

使用銅棒前回路電阻值（μΩ）

使用銅棒後回路電阻值（μΩ）



表2 數據對比

可見使用銅棒模擬靜觸頭可以較好的模擬斷路器實際工作狀況。

3 影響測量誤差分析

由測試回路組成，可知測試數據包括三個部分之和，即導體電阻、固定接觸麵麵電阻、活動接觸麵電阻之和。其誤差分析如下。

3.1 導體電阻

導體電阻數值取決於導體材料、導體幾何特征（包括麵積、形狀、長度等）、導體的溫度等因素，在材料和幾何特征固定時，其數值隻受溫度的影響，其直流電阻與溫度的關係為：

Rt2=KRT1k=(235+t2)/（235+t1）

由式可見，其直流電阻與溫度成正比。測量過程中溫度固定，阻值也相對固定。

3.2 固定接觸麵接觸電阻

固定接觸麵接觸電阻包括集中電阻和表麵電阻兩部分。集中電阻為連接體兩端由於形狀不同帶來的電流流線改變而產生的電阻，它隻受導體形狀的影響。表麵電阻，其影響因素為材質、連接麵麵積、接觸壓力、接觸麵的汙染。由於運行中的斷路器材質、連接麵積等已經確定、且為螺栓連接，接觸壓力固定，而接觸麵汙染又是一個漸變過程。綜上所述，該部分電阻可以認為是恒定量。

3.3 活動接觸麵接觸電阻

活動接觸麵接觸電阻同樣包括集中電阻和表麵電阻兩部分。集中電阻相對穩定，但表麵電阻反應活動麵的數值，活動麵接觸壓力可能不穩定，導致數值不穩定。可以認為：回路總電阻的變化量就等於該部分接觸電阻的變化量。也正因為如此，《電力設備預防性試驗規程》規定通過測量斷路器的導電回路電阻來判斷斷路器的設備狀況。下麵對該部分電阻進行具體分析：

觸頭表麵磨損，導致表麵凸點不斷增多，表麵粗糙度增加，導致連接麵的有效接觸麵積不斷改變，引起表麵電阻的變化。
觸頭彈簧由於運行時間過長，導致金屬疲勞，其張力變化引起觸頭壓力的改變，從而引起表麵電阻的變化。
觸頭表麵磨損過多，超過斷路器形程，從而使觸頭表麵達不到額定壓力，繼而引起表麵電阻的變化。
觸頭被電弧燒傷，至表麵凸點增多和導電性能改變，從而引起表麵電阻的變化。
其他因素致表麵汙染，引起表麵電阻的變化。
4 處理措施